X线头影测量的主要应用有 -025-口腔正畸学_来尚学教育

X线头影测量的主要应用有

A.
(来学网)可研究颅面生长发育
B.
可对牙(来学网)、颅面畸形作诊断分析
C.
可确定错(来学网)畸形的矫治设计
D.
(来学网)可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E.
(来学网)可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

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