研究颅面生长发育常用的研究方法是-357-口腔正畸学（中级）

研究颅面生长发育常用的研究方法是

正确答案：

X线头影测量的主要应用包括：①研究颅面生长发育；②牙颌、颅面畸形的诊断分析；③确定错畸形的矫治设计；④研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化；⑤正颌外科的诊断和矫治设计；⑥下颌功能分析。

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口腔正畸学